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Acerca de la Escuela

„… sólo existe el vacio y los átomos, la posición y ordenamiento de éstos determinan la diferencia de los materiales, de igual manera como las letras componen la comedia o la tragedia.” Democrito (460 – 370 a.C.)

Nuestro Departamento ha organizado la Tercera Escuela de Cristalografía y Difracción de Rayos X que se realizará entre el 25 y 27 de Julio del 2018 en la Casa Central de la Universidad. El propósito de la escuela es ofrecer un punto de encuentro para intercambiar conocimientos en cristalografía y difracción de rayos x en la comunidad científica nacional y, fortalecer la formación de estudiantes de postgrado en la caracterización de materiales mediante este método de análisis.

 

En esta tercera escuela, nuestro expositor invitado es el Profesor Invitado del DIMM Raúl Cardoso Gil, científico del Max-Planck-Institut für Chemische Physik fester Stoffe en Dresden, Alemania. En esta oportunidad Profesor Cardoso expondrá sobre los principios de la cristalografía y difracción de rayos x, con aplicación práctica en el análisis y refinamiento de estructuras cristalinas mediante la utilización del software MAUD (Materials Difraction Using Diffraction).

 

Comisión Organizadora

  • Dra. Karem Tello Araya, Departamento de Ingeniería Metalúrgica y de Materiales, Universidad Técnica Federico Santa María
  • Dr. Claudio Aguilar Ramírez, Departamento de Ingeniería Metalúrgica y de Materiales, Universidad Técnica Federico Santa María, Chile.
  • Dr. Raúl Cardoso-Gil, Max-Planck-Institut für Chemische Physik fester Stoffe (Alemanis)/ Universidad Técnica Federico Santa María (Chile).
  • Dana Gentil Lazcano, Departamento de Ingeniería Metalúrgica y de Materiales, Universidad Técnica Federico Santa María, Chile.

Contacto

Dra. Karem Tello Araya

e-mail: Esta dirección de correo electrónico está siendo protegida contra los robots de spam. Necesita tener JavaScript habilitado para poder verlo.

teléfono: +56 32 2654461

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