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Expositores

 

 DrRCardoso Dr. Raúl Cardoso-Gil. Max-Planck-Institute for Chemical Physics of Solids (Alemania)/Universidad Técnica Federico Santa María (Chile). 

Dr. Cardoso se ha dedicado al análisis por difracción de rayos x de monocristales y de polvos en sistemas intermetálicos semiconductores. El profesor Cardoso-Gil ha desarrollado su carrera científica avocado a la investigación de materiales con propiedades semiconductoras, magnéticas, termoeléctricas, entre otros. Considerando la estrecha relación entre propiedades y estructura cristalina de los materiales, se ha dedicado a la caracterización estructural mediante difracción de rayos X de polvo y monocristal.

 

CLAUDIO AGUILAR Dr. Claudio Aguilar. Departamento de Ingeniería Metalúrgica y de Materiales (Chile)

Profesor Aguilar ha trabajado en la caracterización de materiales por medio del análisis de perfiles de difracción de rayos x, orientado al análisis de su microestructura. En su área de investigación se ha dedicada al estudio de aleaciones Cu, Ti y Mg,  y actualmente trabaja en la síntesis de espumas metálicas de aleaciones en base a Ti.

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